Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики

Кратность собственных значений матрицы состояния системы как вырождающий фактор

Авторы: Ушаков А.В., Дударенко Н.А., Полинова Н.

Год издания: 2012

Издание: Материалы 5–й Российской мультиконференции по проблемам управления

Издательство: ГНЦ РФ ОАО Концерн ЦНИИ Электроприбор

Раздел: Прикладные задачи обработки информации в управлении

Страницы: 573-577

Страна: Россия

Город: Санкт-Петербург

ISBN: 978-5-900780-96-2


Все публикации